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走査電子顕微鏡X線分析システム S-3000N

走査型電子顕微鏡は、機能性を修飾したナノもしくはマイクロサイズの医薬品や化粧品製剤の表面状態や粒子径の観察・評価に用いられています。また、観察部位の元素分布を付属のX線分析装置にて調べることができるため、異物の同定をすることもできます。

S-3000N_1

S-3000N_2

機器名・型式走査電子顕微鏡X線分析システム S-3000N
メーカー名日立ハイテクノロジーズ
納入会社名日立ハイテクノロジーズ
機器管理責任者藤堂浩明  (所属) 薬・薬粧品動態制御学講座 (内線8715)
設置場所機器分析センター106室
文部科学省助成機器 
納入年月日平成19年10月1日
測定責任者 

1.本機の特色と性能

電子顕微鏡と組み合わせて微小領域の異物解析、組成分析を行うことができる。電子顕微鏡と組み合わせるX線分析装置は、波長分散型(WDX)とエネルギー 分散型(EDX)があるが、本装置はEDXである。EDXは、Si半導体検出器を用いて、X線をX線エネルギーに比例した大きさの電流パルスに変換するこ とで、広範囲エネルギー領域のスペクトルを同時に測定することができる。また、SEM像の観察条件のままで、EDX分析が可能である。

2.付属装置とその用途

なし

3.使用規定および使用上の注意

  1. 本装置は現在のところ予約制はとっていない。
  2. 本装置の使用希望者は機器管理責任者まで連絡すること。
  3. 使用法については、備えつけの取扱説明書をよく読んで理解するようにする。
  4. 使用ノートが用意してあるので、所定の事項と機械の調子など必ず記帳すること。
  5. 異常が認められた場合は、機器管理責任者に報告すること

4.使用者小委員会の構成

現在のところ設定していない。
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