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研究室紹介 表面ナノ材料評価研究室

教員ティティ レイ(客員教授) 博士(学術)
略歴1986年
1995 年
1997-2003年
2003-2006年
2006-2008
2009-現在  
2013-2015年
2015-2017
2017-現在

ヤンゴン大学応用物理学専攻修士課程 卒業
埼玉大学大学院理工学研究課博士課程修了  博士(学術)
(独)物質・材料研究機構 JST・COE特別研究員
(株)三井物産ナノテク研究所 主任研究員
(独) 産業技術総合研究所(技術員)
茨城大学工学部 非常勤講師
東京大学 大学院新領域人間環境学専攻 (共同研究員)
学校法人 城西大学アセアン研究センター (研究員)
城西大学 理学部化学科 (客員教授)

受賞・表彰歴1995年電気学会 優秀論文発表賞受賞
担当科目(学部) 化学数学III(前)、化学数学IV(後)、物理化学実験(前)
(大学院) 物質評価特論(後)
専門分野表面科学、光計測、材料物性
所属学会応用物理学会
表面科学会
精密工学会
MRS (Material Research Society)
居室214(ティティ レイ)

研究内容

金属酸化物材料及び強誘電体材料のナノ構造を表面分析手法のよって表面・界面の結合状態や化学性質、構造変化の評価を行い、次世代エレクトロニクス・センシング材料としての電気的・機械的性能について研究しています。

昨年度の卒業研究題目

新設研究室のため無し

最近の研究業績

  1. "1. Epitaxial growth of well-ordered ultra-thin Al2O3 film on NiAl (110) by a single-step oxidation"
    Thi Thi Lay, M. Yoshitake and W. Song
    Applied Surface Science, 239, Issue3-4, 451-457 (2005)
  2. "Well-ordered ultra-thin Al2O3 film formation on NiAl (110) by high temperature oxidation"
    Michiko Yoshitake, Thi Thi Lay and W. Song
    Surface Science, 564, Issue1-3, 211-217 (2004)
  3. "Surface Segregation of Al Substrate Metal on Zr film Surface"
    Thi Thi Lay, M. Yoshitake and S. Bera
    Applied Surface Science, 220, Issue1-4, 113-116 (2003)
  4. 以下省略

最近の学会発表

  1. Surface and Interfacial Reaction of Al2O3/SiO2/Si films by SR-XPS
    Thithi Lay, M. Imamura, N. Matsubayashi, M. Jo
    5th IIRC conference "Frontier Forefront of Molecular Dynamics at Surfaces and Interfaces: From a Single Molecule to Catalytic Reaction", 83, 20-23 November (2017) Tokyo Japan.
  2. Analysis of Interfacial Reactions in Ultra-thin Al2O3/SiO2/Si films by SR-XPS
    Thithi Lay, M. Imamura, N. Matsubayashi, M. Jo2, I. Kojima, Min Min Soe, Khi Khin Win
    Regional Conference on Materials Engineering (RCME 2016, AUN/SEED-Net), 21, 25-26 October (2016)
  3. Characteristic of piezoelectric properties under high load conditions-,Part 1: Resonant-antiresonant method under high temperature conditions
    Morita Takeshi, Thithi Lay, etc.
    Fine ceramics, JIS R16991-1(2016)
  4. 4. Spectroscopic Characterization of Ultra-thin Al2O3/SiO2/Si films by SR-XPS
    Thi Thi LAY, Motoyasu IMAMURA, Nobuyuki MATSUBAYASHI
    Material Research Society (MRS), mrss11-1351-ff05-08 (2011)
  5. Analysis of Interfacial Reactions in Ultra-thin Al2O3/SiO2/Si films by SR-XPS
    Thi Thi LAY, Motoyasu IMAMURA, Nobuyuki MATSUBAYASHI, Masatoshi JO and Isao KOJIMA
    International Symposium on Surface Science (ISSS-5), 243 (2008)
  6. Study on Surface Properties of Transition Metal Carbides by X-ray photoelectron spectroscopy
    Thi Thi LAY, Natsuo FUKUMOTO, Masatoshi JO, Motoyasu IMAMURA, Nobuyuki MATSUBAYASHI, and Isao KOJIMA
    European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA), 301 (2007)
  7. Study on Charge Effect of Ultra-thin Al2O3/SiO2/Si Films by XPS
    Thi Thi LAY, Motoyasu IMAMURA, Nobuyuki MATSUBAYASHI, Natsuo FUKUMOTO, Masatoshi JO and Isao KOJIMA
    4th International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA07), (2007)
  8. Chromatic dispersion measurement of SOA in C+L band by self-tracking real-time
    Kensuke Ogawa and Thi Thi Lay
    OFC /NFOEC2005, Anaheim CA (2005)
  9. Broadband self-tracking fiber interferometer with 1GHz spectral resolution and 1s measurement time
    Kensuke Ogawa and Thi Thi Lay
    CLEO2004, San Francisco CA (2004)
  10. 以下省略.
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